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- 表面分析
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表面分析
摘要:表面分析 正文 对固体表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分、结构和能态等分析的材料物理试验。表面分析方法有数十种,常用的有离子探针、俄歇电子能谱分析和X射线光电子能谱分析,其次还有离子中和谱、离子散射谱、低能电子衍射、电子能量损失谱、紫外线电子能谱等技术,以及场离子显微镜分析等。这些表面分析方法的基本原理,大多是以一定能量的电子、离子、光子等与固体表面相互作用,然后分析固体表面所放射出的电子、离子、光子等,从而得到有关的各种信息。 离子探针分析 又称离子探针显微[阅读全文]
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表面分析技术
摘要:表面分析技术 正文 利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术,统称为表面分析技术。在20世纪60年代超高真空和高分辨高灵敏电子测量技术建立和发展的基础上,已开发了数十种表面分析技术,其中主要有场致发射显微技术、电子能谱、电子衍射、离子质谱、离子和原子散射以及各种脱附谱等类。70年代后期建立的同步辐射装置,[阅读全文]
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